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三、基本試驗(yàn)
(1)絕緣電阻的測試通常用100V、250V、500V、1000V、2500V和5000V等兆歐表之一進(jìn)行絕緣電阻的測試,絕緣電阻值的大小,能有效地反映絕緣的整體受潮、污穢以及嚴(yán)重過熱老化等缺陷。
(2)泄漏電流的測試測量設(shè)備的泄漏電流和絕緣電阻本質(zhì)上沒有多大區(qū)別,但是泄漏電流的測量有如下特點(diǎn):
1)試驗(yàn)電壓比兆歐表高得多,絕緣本身的缺陷容易暴露,能發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷;
2)通過測量泄漏電流和外加電壓的關(guān)系有助于分析絕緣的缺陷類型;
3)泄漏電流測量用的微安表要比兆歐表精度高。
(3)直流耐壓試驗(yàn)直流耐壓試驗(yàn)電壓較高,對發(fā)現(xiàn)絕緣某些局部缺陷具有特殊的作用,可與泄漏電流試驗(yàn)同時(shí)進(jìn)行。直流耐壓試驗(yàn)與交流耐壓試驗(yàn)相比,具有試驗(yàn)設(shè)備輕便、對絕緣損傷小和易于發(fā)現(xiàn)設(shè)備的局部缺陷等優(yōu)點(diǎn)。
(4)交流耐壓試驗(yàn)交流耐壓試驗(yàn)對絕緣的考驗(yàn)非常嚴(yán)格,能有效地發(fā)現(xiàn)較危險(xiǎn)的集中性缺陷。它是鑒定電氣設(shè)備絕緣強(qiáng)度最直接的方法,對于判斷電氣設(shè)備能否投入運(yùn)行具有決定性的意義,也是保證設(shè)備絕緣水平、避免發(fā)生絕緣事故的重要手段。
(5)介質(zhì)損耗因數(shù)tgd測試介質(zhì)損耗因數(shù)tgd是反映絕緣性能的基本指標(biāo)之一。介質(zhì)損耗因數(shù)tgd反映絕緣損耗的特征參數(shù),它可以很靈敏地發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備絕緣整體受潮、劣化變質(zhì)以及小體積設(shè)備貫通和未貫通的局部缺陷。
(6)電容比的測量因變壓器等其絕緣為纖維材料的線圈繞組很容易吸收水分,使介質(zhì)常數(shù)增大,引起其電容也隨之增大,所以用測量電容比法來檢驗(yàn)纖維絕緣的受潮狀態(tài)是最有效的方法。
(7)三倍頻及工頻感應(yīng)耐壓試驗(yàn)對變壓器、電抗器等設(shè)備的主絕緣進(jìn)行感應(yīng)高電壓耐壓試驗(yàn),以考核繞組間、匝間絕緣耐壓能力。又因三次諧波的三相疊加等于三相三次波的代數(shù)和,其感應(yīng)電壓為較高,對絕緣的破壞性也最大,故需作三倍頻的感應(yīng)耐壓試驗(yàn)。
(8)沖擊波試驗(yàn)電氣設(shè)備在運(yùn)行中可能遇到雷電壓及操作過程電壓的沖擊作用,故沖擊波試驗(yàn)是檢驗(yàn)電氣設(shè)備承受雷電壓和操作電壓的絕緣性能和保護(hù)性能。
(9)局部放電試驗(yàn)由于絕緣材料本身的缺陷,在工作電壓下形成局部放電是造成絕緣老化并發(fā)展到擊穿的主要原因,因此檢測局部放電程度,可為決定和采取預(yù)防措施提供依據(jù),故規(guī)程把局部放電作為高壓電氣設(shè)備絕緣試驗(yàn)的項(xiàng)目之一。
(10)接地電阻測試用接地電阻測試儀測試接地裝置的接地電阻值。按一般設(shè)計(jì)要求,針式接地極的接地電阻應(yīng)小于4Ω;板式接地極的接地電阻不應(yīng)大于lΩ。如接地裝置的接地電阻達(dá)不到上述標(biāo)準(zhǔn)時(shí),應(yīng)加“降阻劑”或增加接地極的數(shù)量或更換接地極的位置后,再測試接地電阻直到合乎標(biāo)準(zhǔn)為止。
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