高級(jí)會(huì)計(jì)開卷考試可以貼標(biāo)簽嗎

高級(jí)會(huì)計(jì)開卷考試可以貼標(biāo)簽。高級(jí)會(huì)計(jì)考試是開卷考試，可翻看教材及查詢相關(guān)資料，尤其是針對(duì)文字性試題，可找到相應(yīng)知識(shí)點(diǎn)后抄錄到答卷中。考生帶進(jìn)考場的書，可以貼標(biāo)簽，也可以做筆記，最重要的，還是需要考生對(duì)教材格外的熟悉。

雖然在這種開卷考試形式下可降低考試難度，提高答題的準(zhǔn)確率，但對(duì)教材的熟悉程度要求較高。只有對(duì)知識(shí)點(diǎn)所在位置掌握精準(zhǔn)，才能快速找到答案，避免浪費(fèi)答題時(shí)間。

此外，對(duì)計(jì)算性試題，單純記住知識(shí)點(diǎn)位置、公式或者步驟并不一定能正確解答，熟練掌握其原理、計(jì)算思路，能舉一反三更為重要。

根據(jù)《全國會(huì)計(jì)專業(yè)技術(shù)資格考試考場規(guī)則》，第四條：參加高級(jí)會(huì)計(jì)資格考試，考生可以攜帶裝訂成冊(cè)的紙質(zhì)參考資料?？荚嚻陂g，不得相互傳遞借閱紙質(zhì)參考資料，違者按違紀(jì)進(jìn)行處理。

高級(jí)會(huì)計(jì)為開卷考試，開卷考試一定程度上減輕了考生記憶力的負(fù)擔(dān)，但是既然是開卷，出題人就不會(huì)明明白白把答案直接寫在課本上，也不可能讓你在考場上輕輕松松翻到考察的知識(shí)?？忌鷤儜?yīng)正視開卷考試，用“閉卷態(tài)度”對(duì)待開卷考試，做到對(duì)教材非常熟悉的程度，才能快速找到答案，避免浪費(fèi)答題時(shí)間。