第1題
A.單元測(cè)試一般采用白盒測(cè)試方法,輔以黑盒測(cè)試方法
B.集成測(cè)試主要采用黑盒測(cè)試方法,輔以白盒測(cè)試方法
C.配置項(xiàng)測(cè)試一般采用白盒測(cè)試方法
D.系統(tǒng)測(cè)試一般采用黑盒測(cè)試方法
第2題
A.功能測(cè)試和性能測(cè)試
B.白盒測(cè)試、灰盒測(cè)試和黑盒測(cè)試
C.單元測(cè)試、集成測(cè)試、確認(rèn)測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試
第3題
A.黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試
B.單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試
C.安全性測(cè)試、性能測(cè)試
D.功能性測(cè)試和結(jié)構(gòu)性測(cè)試
第4題
A.黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試
B.功能性測(cè)試和結(jié)構(gòu)性測(cè)試
C.單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試
D.動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試
第5題
A.白盒測(cè)試側(cè)重于程序結(jié)構(gòu),黑盒測(cè)試側(cè)重于功能
B.白盒測(cè)試可以使用測(cè)試工具,黑盒測(cè)試不能使用工具
C.白盒測(cè)試需要程序員參與,黑盒測(cè)試不需要
D.黑盒測(cè)試比白盒測(cè)試應(yīng)用更廣泛
第7題
A.采用白盒測(cè)試,輔之以黑盒測(cè)試
B.采用黑盒測(cè)試,輔之以白盒測(cè)試
C.只使用白盒測(cè)試
D.只使用黑盒測(cè)試
第8題
A.黑盒測(cè)試
B.白盒測(cè)試
C.灰盒測(cè)試
D.沒(méi)有主次之分